El microscopio metalúrgico industrial J-ZM1 está desarrollado y dirigido a la industria de semiconductores, la fabricación de obleas, la industria de la información electrónica y la industria metalúrgica. Utilizado como un microscopio metalúrgico avanzado, el usuario puede experimentar su excelente rendimiento cuando lo usa. Se puede utilizar ampliamente para identificar y analizar semiconductores, FPD, encapsulación de circuitos, sustratos de circuitos, materiales, piezas de fundición, metal o cerámica, moldes de precisión y observar muestras más gruesas. El sistema óptico confiable y de alta calidad brinda una imagen mucho más clara y contrastada. El diseño cumple con las necesidades de ergonomía y hace que te sientas cómodo y relajado al hacer tu trabajo.
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