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El microscopio metalúrgico J-M158 está desarrollado y dirigido a la industria de semiconductores, fabricación de obleas, industria de la información electrónica, industria metalúrgica. Utilizado como microscopio metalúrgico avanzado, el usuario puede experimentar su excelente rendimiento al usarlo. Se puede utilizar ampliamente para identificar y analizar semiconductores, FPD, encapsulación de circuitos, sustratos de circuitos, materiales, piezas de fundición, metal/cerámica y moldes de precisión. Este instrumento adopta tanto la iluminación reflejante como la transmitida. La observación del campo brillante-oscuro, el DIC y la polarización se pueden realizar con iluminación reflectante, y la observación del campo brillante se realiza con luz transmitida. El sistema óptico confiable y de alta calidad brinda imágenes mucho más claras y nítidas. El diseño cumple con las necesidades de ergonomía y hace que te sientas cómodo y relajado al hacer tu trabajo.
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